A Method for Leakage Current and Power Reduction of Buffer in 65-nm CMOS Technology Based on the Pileup-Effect
نویسندگان
چکیده
In small-size Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) technology, the size of Very Large-Scale Integration (VLSI) below 90nm becomes higher and due to enhancement short channel effect transistors. CMOS Buffer is a very common circuit unit in VLSI. this paper, Pileup transistor (PET) proposed reduce subthreshold leakage current buffer. The main principle PET technology voltage difference between gate source drain by lowering so as current. Through simulation-based on Cadence Taiwan Manufacturing Company (TSMC) N65 library, can power consumption about one-twelfth original while maintaining function has also been found transition state 40%.
منابع مشابه
the effect of consciousness raising (c-r) on the reduction of translational errors: a case study
در دوره های آموزش ترجمه استادان بیشتر سعی دارند دانشجویان را با انواع متون آشنا سازند، درحالی که کمتر به خطاهای مکرر آنان در متن ترجمه شده می پردازند. اهمیت تحقیق حاضر مبنی بر ارتکاب مکرر خطاهای ترجمانی حتی بعد از گذراندن دوره های تخصصی ترجمه از سوی دانشجویان است. هدف از آن تاکید بر خطاهای رایج میان دانشجویان مترجمی و کاهش این خطاها با افزایش آگاهی و هوشیاری دانشجویان از بروز آنها است.از آنجا ک...
15 صفحه اولComparative Study on Leakage Current of Power-Gated SRAMs for 65-nm, 45-nm, 32-nm Technology Nodes
In this paper, we compare four SRAM circuits. They are the conventional SRAM1, the SRAM2 with power switches on VSS line, the SRAM3 with switches on VDD line, and the SRAM4 with switches on both VDD and VSS lines, respectively. Among the four SRAMs, the SRAM2 shows the smallest amount of leakage, because its subthreshold leakage is most suppressed by its BODY and Drain-Induced Barrier Lowering ...
متن کاملapplication of upfc based on svpwm for power quality improvement
در سالهای اخیر،اختلالات کیفیت توان مهمترین موضوع می باشد که محققان زیادی را برای پیدا کردن راه حلی برای حل آن علاقه مند ساخته است.امروزه کیفیت توان در سیستم قدرت برای مراکز صنعتی،تجاری وکاربردهای بیمارستانی مسئله مهمی می باشد.مشکل ولتاژمثل شرایط افت ولتاژواضافه جریان ناشی از اتصال کوتاه مدار یا وقوع خطا در سیستم بیشتر مورد توجه می باشد. برای مطالعه افت ولتاژ واضافه جریان،محققان زیادی کار کرده ...
15 صفحه اولThe Impact of Gate Leakage Current on PLL in 65 nm Technology: Analysis and Optimization
For CMOS technology of 65 nm and beyond, the gate leakage current can not be negligible anymore. In this paper, the impact of the gate leakage current in ring voltage-controlled oscillator (VCO) on phaselocked loop (PLL) is analyzed and modeled. A voltage -to-voltage (V-to-V) circuit is proposed to reduce the voltage ripple on Vctrl induced by the gate leakage current. The side effects induced ...
متن کاملLeakage Power Reduction in CMOS
The advantage of scaling devices is to achieve high performance, low power, large integration and low cost continues to be attractive to the semiconductor industries. However, increasing variability in the device characteristics, soft errors and device degradation in CMOS technologies pose major challenges in the future scaling. Variation in process, voltage and temperature cause uncertainty in...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Journal of physics
سال: 2022
ISSN: ['0022-3700', '1747-3721', '0368-3508', '1747-3713']
DOI: https://doi.org/10.1088/1742-6596/2383/1/012055